FYS4310 – Material Science of Semiconductors

IN1010 – Kursoversikt og Karakterkalkulator FYS4310 – Material Science of Semiconductors
Studiepoeng: 10 Nivå: Master Undervisningsspråk: Engelsk

Kursoversikt

FYS4310 er et kurs i materialvitenskap for halvledere. Det dekker grunnleggende prinsipper i faststoffysikk, elektronisk båndstruktur i halvledere, diffusjon i halvledere, samt syntese, prosessering og karakteriseringsteknikker for halvledermaterialer.

Karakterkalkulator

Karakterskala

FYS4310 bruker bokstavkarakterskalaen fra A til F, hvor A er beste karakter og E er laveste beståtte karakter. F er stryk.

A

Fremragende

B

Meget god

C

God

D

Nokså god

E

Tilstrekkelig

F

Ikke bestått

Viktig informasjon

Undervisningssemester

Kurset undervises på vårsemesteret. Eksamen avholdes også på våren.

Obligatoriske aktiviteter

45 minutters muntlig presentasjon, 20 minutters muntlig presentasjon om valgt tema, og en skriftlig rapport.

Eksamen

Muntlig eksamen som teller 100% av endelig karakter. Obligatoriske aktiviteter må være godkjent før eksamen.

Overlappende emner

10 studiepoeng overlapp med FYS9310 – Material Science of Semiconductors.

Adgangsbegrensning

Studenter på andre masterprogrammer kan søke om opptak til kurset hvis det er godkjent av deres studieprogram.

Undervisningsform

Kurset har 4 timer undervisning per uke, hovedsakelig i form av forelesninger.

Anbefalte forkunnskaper

FYS3280 – Semiconductor Components og FYS3400 – Condensed Matter Physics.

Læringsutbytte

Etter fullført kurs vil du kunne forklare grunnleggende prinsipper i halvledermaterialer og ha oversikt over moderne elektroniske og informasjonsteknologier.

Overlappende emner med FYS4310 – Material Science of Semiconductors

Merk: Denne visualiseringen viser antall studiepoeng som overlapper mellom FYS4310 og andre emner. Hold musepekeren over søylene for mer informasjon om hvert emne.

Ukentlig timefordeling for FYS4310

  • 📚
    4 timer
    Forelesninger

Leave a Reply

Your email address will not be published. Required fields are marked *